Gómez Barojas, EstelaCampuzano Ramos, CarlosRosas Álvarez, Mauricio2026-06-232026-06-231997-03https://hdl.handle.net/20.500.12371/33208Actualmente, en el laboratorio de Microelectrónica del Centro de Investigación en Dispositivos Semiconductores del Instituto de Ciencias de la BUAP, se crecen películas epitaxiales de GaAs por las técnicas de transporte en fase a corta distancia y de epitaxia en fase líquida. Una etapa muy importante después del crecimiento de películas es la caracterización de estas mediante técnicas ópticas, y eléctricas, entre otras. Dentro de estas últimas se encuentran las mediciones por Efecto Hall, con esta técnica se determinan parámetros eléctricos tales como: resistividad, movilidad, y concentración de los portadores mayoritarios de carga. El objetivo de esta tesis es precisamente la semiautomatización de un sistema para la caracterización de películas semiconductoras mediante el efecto Hall. En el capítulo 2, se describen los conceptos básicos de la teoría de los semiconductores, del efecto Hall en una barra semiconductora, del método de Van der Pauw, y del procedimiento de medición y cálculo de parámetros a determinar, así como las conexiones para llevar a cabo las mediciones. En el capítulo 3 se describe la parte eléctrica del sistema, el bus GPIB, y la Tarjeta de Control (Controlador para efecto Hall, Fig. 4-1) que es la contribución real del trabajo de tesis en la cual se describe el desarrollo de los circuitos de dicha tarjeta. En el capítulo 4, se describe la programación (software) que fue necesario desarrollar para la semiautomatización del sistema. Finalmente, en el capítulo 5, se muestran algunos resultados obtenidos de la caracterización del sistema, y se dan las conclusiones.spaFísica—Electricidad y magnetismo—Electricidad—Corriente eléctrica—Conductividad eléctrica—Efecto HallFísica de semiconductores —Mediciones electrónicas—Aplicaciones de la electrónica –Semiconductores—Automatización—Innovaciones tecnológicasDispositivos de efecto HallSemiautomatización del arreglo experimental para mediciones por efecto HallTesis de licenciaturarestrictedAccessLELE1997 R6 S4