Gervacio Arciniega, José JuanGERVACIO ARCINIEGA, JOSE JUAN; 208324Callejas Reséndez, Jorge Alfredo2024-03-142024-03-142023-11https://hdl.handle.net/20.500.12371/20233“Los dispositivos modernos que utilizan materiales ferroeléctricos se están volviendo cada vez más complejos, en específico, su tamaño tiende a una escala cada vez más pequeña. Por lo que es imprescindible conocer las propiedades físicas de estos materiales a escalas micrométricas. La microscopía piezoeléctrica de fuerza atómica (PFM) es una técnica que permite estudiar las propiedades ferroeléctricas de los materiales a este nivel. Recientemente se han descubierto varios artefactos que afectan las mediciones realizadas con esta técnica y ponen en duda la precisión de los resultados que confirman la presencia de las propiedades particulares de este tipo de materiales. Por lo tanto, es de gran importancia desarrollar métodos que puedan utilizar la microscopía de piezorespuesta de fuerza atómica para detectar y cuantificar los efectos de diversos artefactos que afectan las caracterizaciones mediante esta técnica. En este estudio analizamos curvas de fuerza medidas en el momento en que se produce la medición simultánea de piezorespuesta de fuerza atómica en un material estándar. El conocimiento generado en este trabajo sirve como guía para determinar la influencia electrostática en las mediciones de propiedades ferroeléctricas mediante microscopia de piezorespuesta atómica, lo cual ayudará a presentar resultados experimentales medidos por PFM más fiables”.pdfspaCIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRADieléctricosMateriales piezo eléctricos--InvestigaciónDispositivos ferroeléctricos--InvestigaciónMateriales tipo perovskitaFerroelectricidadMicroscopía de fuerza atómicaTesis de licenciaturaopenAccess