Martínez Juárez, JavierLópez Salazar, PrimaveraJiménez Xochimitl, SandraMARTINEZ JUAREZ, JAVIER; 12172LOPEZ SALAZAR, PRIMAVERA; 267852JIMENEZ XOCHIMITL, SANDRA; 162134Martínez Morales, Ana Guadalupe2021-08-052021-08-052021-04https://hdl.handle.net/20.500.12371/13823"Se ha comprobado que los materiales semiconductores binarios con la adición de uno o dos o incluso más elementos adecuados proporcionan una mejor perspectiva y potencial a través de la ingeniería de sus propiedades, lo que resulta en composiciones ternarias, cuaternarias y/o multifase, siendo una de las claves para la modulación de las propiedades ópticas, electrónicas, de transporte, superficie, evolución estructural y otras características de los materiales para ofrecer la foto-actividad mejorada y esperada en un amplio rango de los espectros infrarrojo y visible [33, 34]. La fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva es una técnica de reciente inserción en el análisis de películas y de mayor resolución y sensibilidad, ya que cuenta con aditamentos ópticos para separar las longitudes de onda correspondientes a cada elemento, evitando translapamientos de picos que se dan con el sistema de energía dispersiva, logrando una mejor identificación y cuantificación elemental."pdfspaINGENIERÍA Y TECNOLOGÍAPelículas delgadasMateriales nanoestructuradosCeldas solaresRayos XTesis de licenciaturaopenAccess