Zehe Kuhnt AlfredRamírez Solís AraceliGómez Puerto Ramiro Amando2026-11-062026-11-062009https://hdl.handle.net/20.500.12371/34722Caracterización de la morfología superficial del diseleniuro de cobre e indio (CuInSe₂) a escala nanométrica mediante Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). La técnica permite obtener perfiles tridimensionales de la superficie del material, facilitando el análisis de agregados, texturas y defectos superficiales. El estudio aborda las características morfológicas del CuInSe₂ y su relación con las propiedades que favorecen su utilización como material absorbente de luz en aplicaciones de celdas solares. Los resultados obtenidos mediante AFM contribuyen a la comprensión de las propiedades superficiales del material a escala nanométrica.spaSelenuro de cobre e indioMicroscopía de fuerza atómicaNanomaterialesTesis de licenciaturaopenAccessLELE2009 G6 E8