Gervacio Arciniega, José JuanVargas García, VicenteGervacio Arciniega, José Juan; 0000-0001-7965-4493Vargas García, Vicente; 0000-0001-7457-2026Hernández Marín, Sandra Tzitlalli2026-01-152026-01-152025-08https://hdl.handle.net/20.500.12371/30893"La caracterización de materiales se ha vuelto esencial en el desarrollo de nuevas tecnologías, especialmente debido a la creciente importancia de la nanotecnología. A medida que se busca manipular la materia a escalas nanométricas, se han desarrollado herramientas como la microscopía de fuerza atómica (AFM). Sin embargo, la caracterización de materiales suaves mediante AFM presenta desafíos, como el riesgo de dañar las muestras. Para abordar estas limitaciones, se introduce el modo Pinpoint de AFM, que permite la medición de propiedades mecánicas y topográficas sin contacto directo y prolongado, reduciendo el riesgo de artefactos en las imágenes y prolongando la vida útil de la punta del microscopio. Este enfoque no solo facilita la obtención de datos de alta calidad, sino que también amplía la comprensión de las propiedades estructurales y funcionales de los materiales, lo que es particularmente relevante para los materiales ferroeléctricos, que son versátiles y tienen diversas aplicaciones".pdfspaCIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRAFísica--Electricidad y magnetismo--Electricidad--Electrostática--Ferroelectricidad--Obras generales, tratados y libros de textoCristales ferroeléctricos--AnálisisMateriales--Propiedades--ExperimentosMicroscopía de fuerza atómicaTesis de licenciaturaopenAccess