De León Paredes, VictorVazquéz Luna, José G.Totozintle Huitle, Hugo2026-09-292026-09-292001https://hdl.handle.net/20.500.12371/33856En este trabajo se presenta el estudio, la formación y la caracterización de las propiedades estructurales de muestras en forma de polvo y recubrimientos, además de las propiedades eléctricas de los recubrimientos dopados con cobalto preparados mediante la técnica de sol-gel. El estudio se basa en técnicas tales como: difracción de rayos-x para la determinación de la composición, espectroscopia Raman e infrarroja para el análisis de la estructura química local, espectroscopia de impedancias para el estudio de las propiedades eléctricas, y mediciones en el microscopio de fuerza atómica y de reflectividad para analizar la evolución estructural de los recubrimientos preparados así como la relación de las propiedades eléctricas con esta evolución estructural.unknownspaNanotecnología--Películas delgadas--Dióxido de silicio--Método Sol-Gel--Nanocompositos de cobalto--Caracterización estructural--Caracterización eléctrica--Espectroscopia Raman--Espectroscopia de impedanciasTesis de licenciaturarestrictedAccessLELE2001T6C3