Zarate Corona, OscarCasarrubias Segura, Gildardo2025-02-132025-02-132002https://hdl.handle.net/20.500.12371/24986El propósito de este trabajo es preparar nuevos nanocompósitos de Ge/ZnO (Ge incorporado a una matriz ZnO) empleando la técnica de "sputtering r.f.". Para la caracterización estructural se usaran las técnicas de Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM) y Difracción de Rayos-X (XRD) y para la caracterización óptica las técnicas de Absorción Óptica UV-Vis y Espectroscopía Raman. De esta manera, en el capítulo 1 se describirán los conceptos fundamentales de las peliculas compósitos, así como algunas de sus aplicaciones; en el capítulo 2 se describe la preparación de las películas compósitas mediante la técnica sputtering r.f. y las condiciones de crecimiento; en el capítulo 3 se analiza estructuralmente las películas compósitas mediante las técnicas XRD y TEM, se obtienen los tamaños promedios de las partículas de ZnO y de Ge; en el capítulo 4 y 5 se analizan los resultados de la espectroscopia de absorción UV-Vis y Espectroscopía Raman, respectivamente.spaFisiología--Bioquímica animal--Sustancias especiales--Sustancias orgánicas--Sustancias orgánicas diversasMicrobiología--Microorganismos de la celulosa y otros productos vegetalesPreparacion y caracterizacion de nanocompositosPreparacion y caracterizacion de Nanocompositos de Ge/ZnOTesis de maestríarestrictedAccessICUAP20002 C3 P7