Gervacio Arciniega, José JuanLópez Medina, Javier AlonsoGERVACIO ARCINIEGA, JOSE JUAN; 208324LOPEZ MEDINA, JAVIER ALONSO; 673049Fernández Brito, David2025-02-132025-02-132024-07https://hdl.handle.net/20.500.12371/25006"La Microscopía de Fuerza Atómica (AFM, por sus siglas en inglés) sirve como una herramienta versátil ampliamente empleada para la caracterización de materiales a micro y nanoescala, ofreciendo valiosos conocimientos sobre su morfología y propiedades físicas. La Microscopía de Fuerza Magnética (MFM), uno de los métodos propios de AFM, permite caracterizar los dominios magnéticos de un material ferromagnético, y ha sido objeto de desarrollo en sí misma, con métodos novedosos que incluyen utilizar simultáneamente dos frecuencias de resonancia distintas propias del cantiléver. Sin embargo, estos métodos presentan problemas que pueden afectar a la muestra que se desea medir y limitantes como pérdida de información, por lo que en este trabajo se presentan dos métodos nuevos de MFM, la Microscopía de Fuerza Magnética Bimodal Híbrida (HB-MFM) y la Microscopía de Fuerza Magnética con Seguimiento de Resonancia (RT-MFM), siendo ambos métodos nuevas herramientas que permiten ampliar la capacidad de caracterización de la técnica de MFM. El objetivo es desarrollar e implementar un nuevo método para la microscopía de fuerza magnética que permita obtener más información de muestras ferromagnéticas".pdfspaCIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRAHistoria natural (general)--Microscopía--Microscopios--Microscopios especiales--Microscopios de fuerza atómicaMateriales nanoestructurados--AnálisisMateriales ferromagnéticos--PropiedadesTesis de maestríaopenAccess