Pal, MouPal, Mou; 0000-0003-1180-2415Cuamatzi Nava, Miguel Ángel2026-06-292026-06-292025-10https://hdl.handle.net/20.500.12371/33293“En este trabajo se sintetizaron películas delgadas de CdS dopadas con diferentes concentraciones de níquel (0, 2, 4, 6 y 8 % en peso) mediante el método de depósito por baño químico, con el propósito de ser utilizadas como capa amortiguadora en heterouniones CdS/Cu2ZnSnS4 (CZTS). El análisis estructural mediante difracción de rayos X (DRX) confirmó la formación de la fase hexagonal del CdS tanto en las películas puras como en las que contenían Ni. Se observó un desplazamiento de los picos de difracción hacia mayores ángulos de Bragg con el incremento del dopante, indicando la sustitución parcial de iones Cd2+ por Ni2+ en la red cristalina, sin evidencias de fases secundarias. Las propiedades ópticas se evaluaron a partir de espectros de transmitancia y reflectancia en el rango de 300 a 800 nm. Los resultados mostraron un desplazamiento del borde de absorción óptica hacia menores longitud de onda y un incremento en el ancho de banda prohibida (Eg) de 2.58 eV para la película sin dopar a 2.88 eV para la muestra con 8 % de Ni. Asimismo, la energía Urbach aumentó de 109.5 meV a 124.7 meV, lo que indica un incremento en los estados localizados dentro de la banda prohibida conforme aumentó la concentración del dopante”.pdfspaCIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRAIngeniería (General)--Materiales de ingeniería y construcción--Materiales de composición o estructura especial--Películas delgadasPelículas delgadas--SíntesisAleaciones de níquelPelículas delgadas--Superficies--AnálisisPeliculas delgadas--Propiedades opticasPeliculas delgadas--Propiedades eléctricasTesis de maestríaopenAccess