Browsing by Author "Castillo Luna, Marymar"

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    Tesis de licenciatura
    Interferometría de corrimiento de fase autocalibrado de tres pasos desiguales mediante el método de la distancia Euclídea en un cilindro elíptico
    (2016-06) Castillo Luna, Marymar; CASTILLO LUNA, MARYMAR; 739058
    A lo largo de más de 40 años de investigación se ha logrado introducir una gran variedad de métodos de evaluación de la función de fase de un interferograma, siendo el método conocido como interferometría de corrimiento de fase (PSI, de sus siglas en inglés, Phase-shifting interferometry) uno de los más usados y más ampliamente estudiados, que como característica típica usa siempre la función tangente. La razón yace en su alta precisión y su alta aplicabilidad en metrología, por mencionar solo un ejemplo, haciendo indispensable su uso en investigación básica y aplicada en muchas áreas de la ciencia y la tecnología. El quehacer de la presente tesis estriba en como calcular la fase del objeto mediante la distancia Euclídea de un punto a un cilindro de base elíptica. Este cilindro elíptico es obtenido mediante el ajuste por mínimos cuadrados de puntos de intensidad construidos por un conveniente acomodo de tres interferogramas cambiados en fase de valores desconocidos y arbitrarios capturados de la interferencia de dos haces en un experimento”.
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    Tesis de maestría
    Placa plano paralela homogénea en interferometría de corrimiento de fase generalizado y autocalibrado
    (Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, 2017) Castillo Luna, Marymar; CASTILLO LUNA, MARYMAR; 739058; MENESES FABIAN, CRUZ; 37296
    "Se mide el índice de refracción n, grosor d y posición angular θ de una placa plano paralela mediante un interferómetro de dos brazos. En el brazo de referencia se coloca un objeto que tiene como función crear un interferograma llamado patrón de referencia, mientras que en el brazo de prueba se coloca la placa plano paralela para ser estudiada. La placa introduce cambios de fase constantes que se reflejan en un corrimiento de las franjas en el patrón de referencia. La placa se rota a distintos ángulos θk conocidos y se capturan los patrones de interferencia que resultan. Los corrimientos de fase debidos al giro θk se miden utilizando la técnica de conteo de franjas para el número entero de las franjas e interferometría de corrimiento de fase generalizado y autocalibrado para la fracción en la franja, en particular se propone utilizar el método del volumen encerrado por una superficie VES (de sus siglas en inglés Volume Enclosed by a Surface). Los corrimientos se relacionan mediante una fórmula con n, d, θ y se forma un sistema de ecuaciones el cual se resuelve para conocer las variables deseadas".