Browsing by Author "Vera Marquina, Alicia"

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  • Tesis de licenciatura
    Caracterización eléctrica de una celda de memoria utilizando un sistema de medición controlado por computadora
    (Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, 1996-09) Vera Marquina, Alicia; Calleja Arriaga, Wilfrido; Calleja Arriaga, Wilfrido; Silva Martínez, José; Prieto Fuenlebrada, Arturo; Dorado Ponce de León, José Luis; Jacinto Nolasco, Aurelio
    Este trabajo de tesis consiste en elaborar un sistema de adquisición de datos para poder desarrollar rutinas de medición en transistores MOS complementarios para, a su vez, posteriormente caracterizar una celda de memoria EEPROM. También es necesario obtener diferentes parámetros en diversos dispositivos MOS sin tener que modificar externamente las conexiones de los distintos instrumentos fuente/medidor. Para poder automatizar el sistema de caracterización de dispositivos MOS, se requiere una interfaz que consta de hardware y comandos de software para poder ser usados con este trabajo, el cual consta de siete capítulos. El capítulo dos contiene una introducción breve a la teoría de los semiconductores y una revisión de la operación del capacitor y del transistor MOS. En el capítulo tres se revisan los conceptos básicos y el funcionamiento de las dos celdas de memoria que actualmente se utilizan para fabricar memorias ROM comerciales. También se realiza un breve repaso de la evolución de las celdas de memoria ROM. Los protocolos de programación, las versiones principales y las características de operación de cada uno son tratados en el capítulo cuatro. En el capítulo cinco se revisa el funcionamiento de las diversas topologías de conmutación y se revisan las características principales de dos equipos de conmutación: las matrices y los escáneres. Al final se define la configuración del sistema de adquisición de datos, se hace una descripción a bloques del programa de control y se presenta el listado del mismo desarrollado en lenguaje de programación C. Finalmente, en el capítulo seis se muestran los resultados obtenidos en la caracterización de dispositivos CMOS haciendo uso del sistema automático de adquisición de datos. Las conclusiones de este trabajo se presentan en el capítulo siete.