Desarrollo de sistema para mapeo de fotoluminiscencia en materiales semiconductores por medio de LabVIEW®

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dc.audiencegeneralPublices_MX
dc.contributorArriaga Arriaga, Cesar Augusto
dc.contributorJuárez Díaz, Gabriel
dc.contributorLópez Salazar, Primavera
dc.contributor.advisorARRIAGA ARRIAGA, CESAR AUGUSTO; 476580
dc.contributor.advisorJUAREZ DIAZ, GABRIEL; 43171
dc.contributor.advisorLOPEZ SALAZAR, PRIMAVERA; 267852
dc.contributor.authorCortes Romero, José Manuel
dc.date.accessioned2023-09-25T20:48:18Z
dc.date.available2023-09-25T20:48:18Z
dc.date.issued2023-03
dc.description.abstract"En este trabajo de tesis de Licenciatura se presenta el desarrollo e implementación de un sistema automatizado para mapeo de fotoluminiscencia, el cual permite caracterizar áreas de hasta 18 mm X 18 mm, con una resolución mecánica máxima de 10 m, con lo que se logra ampliar las capacidades del sistema de fotoluminiscencia del Centro de Investigación en Dispositivos Semiconductores del Instituto de Ciencias de la BUAP al permitir determinar la intensidad de Fotoluminiscencia en diferentes puntos de la superficie de materiales semiconductores. Este documento contiene los procesos de diseño, simulación y montaje de los elementos utilizados en el sistema, los cuales están modelados por medio del software CAD SolidWorks®. De la misma manera, se presenta el conjunto de programas desarrollados mediante LabVIEW®, en conjunto con los razonamientos realizados para el cumplimiento del objetivo. Finalmente, este trabajo contiene las diversas pruebas de funcionamiento entre las que se encuentran el mapeo de superficies con patrón ortogonal y no ortogonal, al igual que la caracterización de muestras semiconductoras de Sulfuro de Cadmio y Silicio poroso".
dc.folio20230420121907-7559-TLes_MX
dc.formatpdfes_MX
dc.identificator7es_MX
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12371/18980
dc.language.isospaes_MX
dc.matricula.creator201512146es_MX
dc.publisherBenemérita Universidad Autónoma de Pueblaes_MX
dc.rights.accesopenAccesses_MX
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0es_MX
dc.subject.classificationINGENIERÍA Y TECNOLOGÍAes_MX
dc.subject.lccSemiconductores--Investigación
dc.subject.lccSemiconductores--Materiales
dc.subject.lccMateriales nanoestructurados--Propiedades ópticas
dc.subject.lccFotoluminiscencia--Investigación
dc.subject.lccLuminiscencia--Medición
dc.subject.lccDetectores--Procesamiento de datos
dc.thesis.careerLicenciatura en Ingeniería en Mecatrónicaes_MX
dc.thesis.degreedisciplineÁrea de Ingeniería y Ciencias Exactases_MX
dc.thesis.degreegrantorFacultad de Ciencias de la Electrónicaes_MX
dc.thesis.degreetoobtainIngeniero (a) en Mecatrónicaes_MX
dc.titleDesarrollo de sistema para mapeo de fotoluminiscencia en materiales semiconductores por medio de LabVIEW®
dc.typeTesis de licenciaturaes_MX
dc.type.conacytbachelorThesises_MX
dc.type.degreeLicenciaturaes_MX
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