Micromaquinado y análisis de cavidades asféricas en silicio monocristalino (1 0 0), con una etapa de fotolitografía
dc.audience | generalPublic | |
dc.contributor | Ambrosio Lázaro, Roberto Carlos | |
dc.contributor | Calleja Arriaga, Wilfrido | |
dc.contributor.advisor | CALLEJA ARRIAGA, WILFRIDO; 6218 | |
dc.contributor.author | Vargas Toxqui, Maricruz | |
dc.date.accessioned | 2023-12-05T19:23:16Z | |
dc.date.available | 2023-12-05T19:23:16Z | |
dc.date.issued | 2023-06 | |
dc.description.abstract | “En este trabajo de tesis se presenta el uso de técnicas de microelectrónica para maquinar cavidades asféricas en silicio monocristalino (1 0 0), acompañado de un minucioso análisis en la morfología final y en la región gradual de alto índice. Las microcavidades asféricas se pueden desarrollar utilizando un ciclo sencillo de fotolitografía y grabado húmedo anisotrópico. Donde el diseño geométrico de estas estructuras, se realiza considerando la simetría de los planos y la estructura atómica general en el silicio monocristalino. Logrando cavidades con un desarrollo controlado, morfología variada y excelente reproducibilidad. Su funcionamiento y posibles aplicaciones (como elementos ópticos) dependen directamente de su geometría final. Sin embargo, se ha identificado la falta de un análisis exhaustivo para este tipo de estructuras durante su evolución, particularmente sobre la región gradual de alto índice que se desarrolla dentro de cada cavidad. Esta zona bien definida abre amplias posibilidades para nuevos dispositivos cuyo funcionamiento depende de la orientación de la superficie. El objetivo principal de este trabajo es presentar un análisis a base de micrografías ópticas, micrografías SEM y reconstrucción de las curvaturas con perfilómetro alpha step, que en conjunto permiten el estudio morfológico inicial de la zona asférica de interés”. | |
dc.folio | 20230630143120-9767-TL | |
dc.format | ||
dc.identificator | 7 | |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12371/19609 | |
dc.language.iso | spa | |
dc.matricula.creator | 201211442 | |
dc.publisher | Benemérita Universidad Autónoma de Puebla | |
dc.rights.acces | openAccess | |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 | |
dc.subject.classification | INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA | |
dc.subject.lcc | Microelectrónica--Investigación | |
dc.subject.lcc | Materiales nanoestructurados--Diseño y construcción | |
dc.subject.lcc | Lentes asféricas | |
dc.subject.lcc | Fotolitografía | |
dc.subject.lcc | Materiales--Análisis | |
dc.subject.lcc | Morfología | |
dc.subject.lcc | Micrografía | |
dc.thesis.career | Licenciatura en Ciencias de la Electrónica (aparece lic. en electrónica) | |
dc.thesis.degreediscipline | Área de Ingeniería y Ciencias Exactas | |
dc.thesis.degreegrantor | Facultad de Ciencias de la Electrónica | |
dc.thesis.degreetoobtain | Licenciado (a) en Electrónica | |
dc.title | Micromaquinado y análisis de cavidades asféricas en silicio monocristalino (1 0 0), con una etapa de fotolitografía | |
dc.type | Tesis de licenciatura | |
dc.type.conacyt | bachelorThesis | |
dc.type.degree | Licenciatura |
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