Estudio de la ingeniería de bandas de energía en multicapas de Si/SiO2 para su aplicación en dispositivos optoelectrónicos
dc.audience | generalPublic | es_MX |
dc.contributor | Flores Martínez, Guillermo | |
dc.contributor | Morales Sánchez, Alfredo | |
dc.contributor.advisor | Morales Sánchez, Alfredo; 102732 | |
dc.contributor.author | Palacios Márquez, Braulio | |
dc.creator | PALACIOS MARQUEZ, BRAULIO; 778289 | |
dc.date.accessioned | 2021-05-13T19:55:39Z | |
dc.date.available | 2021-05-13T19:55:39Z | |
dc.date.issued | 2016-04 | |
dc.description.abstract | “Durante nuestra vida diaria usamos diferentes aparatos electrónicos, sin saber todo el trabajo previo que se hace para lograr ese funcionamiento, tal es el caso de los dispositivos optoelectrónicos. Estos elementos son los encargados de convertir una señal eléctrica a una óptica y viceversa, en otras palabras convierten los electrones en fotones (visibles o no al ojo humano). Tales dispositivos los podemos encontrar en lámparas con tecnología LED, sensores o en celdas solares utilizadas como fuentes de energía alternativa. Hoy en día, debido a los grandes avances en la tecnología de los materiales, continuamente se buscan nuevas estructuras en los dispositivos semiconductores, así como diferentes materiales a utilizar. Actualmente las nanopartículas de silicio ya sean cristalinas o amorfas (nps Si) dispersas dentro de una matriz dieléctrica han surgido como una excelente alternativa para el desarrollo de novedosos dispositivos tales como memorias, celdas solares, detectores y emisores de luz [1, 2, 7, 9]. El estudio de las propiedades ópticas y eléctricas de nanopartículas de silicio por parte de los centros de investigación ha aumentado en la última década, principalmente porque los materiales y las técnicas utilizadas para su fabricación son comunes en la industria microelectrónica, haciéndolos más atractivos para aplicaciones en dispositivos optoelectrónicos integrados.” | es_MX |
dc.folio | 273616TL | es_MX |
dc.format | es_MX | |
dc.identificator | 7 | es_MX |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12371/12946 | |
dc.language.iso | spa | es_MX |
dc.matricula.creator | 200916011 | es_MX |
dc.rights.acces | openAccess | es_MX |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 | es_MX |
dc.subject.classification | INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA | es_MX |
dc.subject.lcc | Materiales nanoestructurados | es_MX |
dc.subject.lcc | Microelectrónica | es_MX |
dc.subject.lcc | Películas delgadas | es_MX |
dc.subject.lcc | Pulverización catódica (Física) | es_MX |
dc.thesis.career | Licenciatura en Ingeniería Mecánica y Eléctrica | es_MX |
dc.thesis.degreediscipline | Área de Ingeniería y Ciencias Exactas | es_MX |
dc.thesis.degreegrantor | Facultad de Ingeniería | es_MX |
dc.thesis.degreetoobtain | Ingeniero (a) Mecánico y Eléctrico | es_MX |
dc.title | Estudio de la ingeniería de bandas de energía en multicapas de Si/SiO2 para su aplicación en dispositivos optoelectrónicos | es_MX |
dc.type | Tesis de licenciatura | es_MX |
dc.type.conacyt | bachelorThesis | es_MX |
dc.type.degree | Licenciatura | es_MX |