Caracterización estructural y electrica de películas de SiO2 conteniendo cobalto preparadas por el método SOL-GEL

dc.audiencegeneralPublic
dc.contributor.advisorDe León Paredes, Victor
dc.contributor.advisorVazquéz Luna, José G.
dc.contributor.authorTotozintle Huitle, Hugo
dc.contributor.committeeJuarez Santiesteban, Hector
dc.contributor.committeeRamírez Rerucho, Adolfo
dc.contributor.committeeLopez Flores, Rey Baltazar
dc.coverage.placeTesiteca, Biblioteca Central 3er. piso
dc.date.accessioned2026-09-29T15:45:38Z
dc.date.available2026-09-29T15:45:38Z
dc.date.issued2001
dc.description.abstractEn este trabajo se presenta el estudio, la formación y la caracterización de las propiedades estructurales de muestras en forma de polvo y recubrimientos, además de las propiedades eléctricas de los recubrimientos dopados con cobalto preparados mediante la técnica de sol-gel. El estudio se basa en técnicas tales como: difracción de rayos-x para la determinación de la composición, espectroscopia Raman e infrarroja para el análisis de la estructura química local, espectroscopia de impedancias para el estudio de las propiedades eléctricas, y mediciones en el microscopio de fuerza atómica y de reflectividad para analizar la evolución estructural de los recubrimientos preparados así como la relación de las propiedades eléctricas con esta evolución estructural.
dc.formatunknown
dc.identifier.bibrecordLELE2001T6C3
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12371/33856
dc.language.isospa
dc.publisherBenemérita Universidad Autónoma de Puebla
dc.rights.accesrestrictedAccess
dc.subject.lccNanotecnología--Películas delgadas--Dióxido de silicio--Método Sol-Gel--Nanocompositos de cobalto--Caracterización estructural--Caracterización eléctrica--Espectroscopia Raman--Espectroscopia de impedancias
dc.thesis.careerLicenciatura en Ciencias de la Electrónica (aparece lic. en electrónica)
dc.thesis.degreedisciplineÁrea de Ingeniería y Ciencias Exactas
dc.thesis.degreegrantorFacultad de Ciencias de la Electrónica
dc.thesis.degreetoobtainLicenciado (a) en Electrónica
dc.titleCaracterización estructural y electrica de películas de SiO2 conteniendo cobalto preparadas por el método SOL-GEL
dc.typeTesis de licenciatura
dc.type.degreeLicenciatura
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