Preparacion y caracterizacion de Nanocompositos de Ge/ZnO
Date
2002
Authors
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Publisher
Benemérita Universidad Autónoma de Puebla
Abstract
El propósito de este trabajo es preparar nuevos nanocompósitos de Ge/ZnO (Ge incorporado a una matriz ZnO) empleando la técnica de "sputtering r.f.". Para la caracterización estructural se usaran las técnicas de Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM) y Difracción de Rayos-X (XRD) y para la caracterización óptica las técnicas de Absorción Óptica UV-Vis y Espectroscopía Raman. De esta manera, en el capítulo 1 se describirán los conceptos fundamentales de las peliculas compósitos, así como algunas de sus aplicaciones; en el capítulo 2 se describe la preparación de las películas compósitas mediante la técnica sputtering r.f. y las condiciones de crecimiento; en el capítulo 3 se analiza estructuralmente las películas compósitas mediante las técnicas XRD y TEM, se obtienen los tamaños promedios de las partículas de ZnO y de Ge; en el capítulo 4 y 5 se analizan los resultados de la espectroscopia de absorción UV-Vis y Espectroscopía Raman, respectivamente.