Probador de dispositivos analógicos con generador de funciones controlados por microcontrolador y fuentes de alimentación
| dc.audience | generalPublic | |
| dc.contributor.advisor | Cruz Machicado, Abraham Eloy | |
| dc.contributor.author | Diosdado Padilla, María del Carmen | |
| dc.contributor.committee | Lobato Viveros, Alberto | |
| dc.contributor.committee | Mendieta Lozada, Araceli | |
| dc.contributor.committee | Cortazar Calacich, Jorge | |
| dc.contributor.committee | Salas Ramírez, Alvaro | |
| dc.contributor.committee | Vázquez Godínez, Alejandro | |
| dc.coverage.place | Tesiteca, Biblioteca Central 3er. piso | |
| dc.date.accessioned | 2026-06-23T19:33:28Z | |
| dc.date.available | 2026-06-23T19:33:28Z | |
| dc.date.issued | 1998 | |
| dc.description.abstract | La electrónica juega un papel principal como intérprete del vasto equipo de trabajo que se conoce ampliamente como procesamiento de señales de información. Un atributo de un buen diseñador de circuitos es la habilidad de realizar un análisis rápido de los mismos, lo cual dará como consecuencia una implementación satisfactoria de un sistema discreto. A pesar de haberse realizado un buen diseño, en ocasiones los resultados no son los esperados; esto se debe, la mayoría de las veces, a fallas en algunos de los dispositivos, razón por la cual se consideró necesario el desarrollo de un sistema capaz de revisar y medir los dispositivos analógicos de mayor uso en el desarrollo de sistemas. En las siguientes secciones se muestra una de las formas en las que se puede implementar un sistema que satisfaga las condiciones anteriormente expuestas. El proyecto desarrollado será de gran utilidad en los laboratorios de electrónica, ya que permitirá detectar fallas en dispositivos comúnmente usados de una manera sencilla y, al mismo tiempo, permitirá al usuario contar con un generador de funciones y una fuente de alimentación simétrica para la realización de diversas pruebas, todo en un solo módulo de reducido tamaño. | |
| dc.identifier.bibrecord | LELE1998 D5 P7 | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12371/33174 | |
| dc.language.iso | spa | |
| dc.publisher | Benemérita Universidad Autónoma de Puebla | |
| dc.rights.acces | restrictedAccess | |
| dc.subject.lcc | Instrumentos y máquinas—Electrónica—Aplicaciones de la electrónica—Ingeniería informática—Sistemas de ingeniería de control—Maquinaria automática—Computadoras analógicas—Análisis técnico | |
| dc.subject.lcc | Ordenadores especiales, sistemas informáticos y microprocesadores—Ordenadores electrónicos—Microelectrónica—Circuitos integrados—Equipos de procesamiento de señales | |
| dc.subject.lcc | Controladores programables—Distribución o transmisión de energía eléctrica | |
| dc.thesis.career | Licenciatura en Ciencias de la Electrónica (aparece lic. en electrónica) | |
| dc.thesis.degreediscipline | Área de Ingeniería y Ciencias Exactas | |
| dc.thesis.degreegrantor | Facultad de Ciencias de la Electrónica | |
| dc.thesis.degreetoobtain | Licenciado (a) en Electrónica | |
| dc.title | Probador de dispositivos analógicos con generador de funciones controlados por microcontrolador y fuentes de alimentación | |
| dc.type | Tesis de licenciatura | |
| dc.type.degree | Licenciatura |