Placa plano paralela homogénea en interferometría de corrimiento de fase generalizado y autocalibrado

dc.audiencegeneralPublic
dc.contributorMeneses Fabián,Cruz
dc.contributor.advisorMENESES FABIAN, CRUZ; 37296
dc.contributor.authorCastillo Luna, Marymar
dc.creatorCASTILLO LUNA, MARYMAR; 739058
dc.date.accessioned2019-05-24T14:51:44Z
dc.date.available2019-05-24T14:51:44Z
dc.date.issued2017
dc.description.abstract"Se mide el índice de refracción n, grosor d y posición angular θ de una placa plano paralela mediante un interferómetro de dos brazos. En el brazo de referencia se coloca un objeto que tiene como función crear un interferograma llamado patrón de referencia, mientras que en el brazo de prueba se coloca la placa plano paralela para ser estudiada. La placa introduce cambios de fase constantes que se reflejan en un corrimiento de las franjas en el patrón de referencia. La placa se rota a distintos ángulos θk conocidos y se capturan los patrones de interferencia que resultan. Los corrimientos de fase debidos al giro θk se miden utilizando la técnica de conteo de franjas para el número entero de las franjas e interferometría de corrimiento de fase generalizado y autocalibrado para la fracción en la franja, en particular se propone utilizar el método del volumen encerrado por una superficie VES (de sus siglas en inglés Volume Enclosed by a Surface). Los corrimientos se relacionan mediante una fórmula con n, d, θ y se forma un sistema de ecuaciones el cual se resuelve para conocer las variables deseadas".
dc.folio3318T
dc.formatpdf
dc.identificator1
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12371/1019
dc.language.isospa
dc.matricula.creator216470076T
dc.publisherBenemérita Universidad Autónoma de Puebla
dc.rights.accesopenAccess
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4
dc.subject.classificationCiencias Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra
dc.subject.lccInterferometría
dc.subject.lccInterferómetro
dc.subject.lccÓptica no lineal
dc.thesis.careerMaestría en Ciencias (Física Aplicada)
dc.thesis.degreedisciplineÁrea de Ingeniería y Ciencias Exactas
dc.thesis.degreegrantorFacultad de Ciencias Físico Matemáticas
dc.thesis.degreetoobtainMaestro (a) en Ciencias (Física Aplicada)
dc.titlePlaca plano paralela homogénea en interferometría de corrimiento de fase generalizado y autocalibrado
dc.typeTesis de maestría
dc.type.conacytmasterThesis
dc.type.degreeMaestría
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