Caracterización eléctrica de una celda de memoria utilizando un sistema de medición controlado por computadora

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dc.audiencegeneralPublic
dc.contributor.advisorCalleja Arriaga, Wilfrido
dc.contributor.authorVera Marquina, Alicia
dc.contributor.committeeCalleja Arriaga, Wilfrido
dc.contributor.committeeSilva Martínez, José
dc.contributor.committeePrieto Fuenlebrada, Arturo
dc.contributor.committeeDorado Ponce de León, José Luis
dc.contributor.committeeJacinto Nolasco, Aurelio
dc.coverage.placeBiblioteca Central 3er. piso
dc.date.accessioned2026-06-22T22:34:36Z
dc.date.available2026-06-22T22:34:36Z
dc.date.issued1996-09
dc.description.abstractEste trabajo de tesis consiste en elaborar un sistema de adquisición de datos para poder desarrollar rutinas de medición en transistores MOS complementarios para, a su vez, posteriormente caracterizar una celda de memoria EEPROM. También es necesario obtener diferentes parámetros en diversos dispositivos MOS sin tener que modificar externamente las conexiones de los distintos instrumentos fuente/medidor. Para poder automatizar el sistema de caracterización de dispositivos MOS, se requiere una interfaz que consta de hardware y comandos de software para poder ser usados con este trabajo, el cual consta de siete capítulos. El capítulo dos contiene una introducción breve a la teoría de los semiconductores y una revisión de la operación del capacitor y del transistor MOS. En el capítulo tres se revisan los conceptos básicos y el funcionamiento de las dos celdas de memoria que actualmente se utilizan para fabricar memorias ROM comerciales. También se realiza un breve repaso de la evolución de las celdas de memoria ROM. Los protocolos de programación, las versiones principales y las características de operación de cada uno son tratados en el capítulo cuatro. En el capítulo cinco se revisa el funcionamiento de las diversas topologías de conmutación y se revisan las características principales de dos equipos de conmutación: las matrices y los escáneres. Al final se define la configuración del sistema de adquisición de datos, se hace una descripción a bloques del programa de control y se presenta el listado del mismo desarrollado en lenguaje de programación C. Finalmente, en el capítulo seis se muestran los resultados obtenidos en la caracterización de dispositivos CMOS haciendo uso del sistema automático de adquisición de datos. Las conclusiones de este trabajo se presentan en el capítulo siete.
dc.identifier.bibrecordLELE1996 V4 C3
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12371/33128
dc.language.isospa
dc.publisherBenemérita Universidad Autónoma de Puebla
dc.rights.accesrestrictedAccess
dc.subject.lccIngeniería eléctrica—Electrónica—Electrónica—Aparatos y materiales—Semiconductores —Corriente eléctrica—Conductividad eléctrica—Física de semiconductores—Fabricación
dc.subject.lccGestión de la producción—Gestión de operaciones—Procesamiento de datos —Microelectrónica—Circuitos integrados —Distribución o transmisión de energía eléctrica
dc.subject.lccEquipos de procesamiento de señales—Memoria
dc.thesis.careerLicenciatura en Ciencias de la Electrónica (aparece lic. en electrónica)
dc.thesis.degreedisciplineÁrea de Ingeniería y Ciencias Exactas
dc.thesis.degreegrantorFacultad de Ciencias de la Electrónica
dc.thesis.degreetoobtainLicenciado (a) en Electrónica
dc.titleCaracterización eléctrica de una celda de memoria utilizando un sistema de medición controlado por computadora
dc.typeTesis de licenciatura
dc.type.degreeLicenciatura
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Teis de Licenciatura