Browsing by Author "De la Hidalga Wade, Francisco Javier"

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  • Tesis de licenciatura
    Circuitos de pruebas para la optimización del proceso de fabricación de circuitos integrados ECMOS-INAOE
    (Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, 1992) De la Hidalga Wade, Francisco Javier; Peykov, Peter; Linares, Monico
    Introducción: "Esta tesis profesional, presentada por Francisco Javier de la Hidalga Wade ante la BUAP en el año 1992, examina el diseño y la implementación de "Circuitos de Pruebas para la Optimización del Proceso de Fabricación de Circuitos Integrados ECMOS-INAOE". El trabajo argumenta que el desarrollo, caracterización y control del proceso de manufactura de semiconductores CMOS de compuerta de polisilicio requiere de herramientas de diagnóstico avanzadas y metodologías analíticas rigurosas. El autor destaca que los Circuitos Integrados (CI) de Prueba son elementos estratégicos e indispensables, ya que proporcionan los parámetros eléctricos y físicos necesarios para el modelado de dispositivos y la simulación de circuitos que difícilmente se obtienen de los CIs producto. A través de un enfoque estructurado en nueve capítulos y apéndices técnicos, el documento explora desde la justificación teórica y las reglas de patrones geométricos (layout), hasta los métodos de medición y el análisis de fallas o confiabilidad. Concluye que la eficiencia y optimización de la microelectrónica moderna dependen de la capacidad de evaluar de forma precisa variables críticas como el rompimiento de dieléctricos, la movilidad de portadores y los tiempos de propagación para asegurar la competitividad tecnológica institucional".