Análisis de curvas de fuerza para la identificación y cuantificación de artefactos en microscopia de piezorespuesta de fuerza atómica

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dc.audiencegeneralPublic
dc.contributorGervacio Arciniega, José Juan
dc.contributor.advisorGERVACIO ARCINIEGA, JOSE JUAN; 208324
dc.contributor.authorCallejas Reséndez, Jorge Alfredo
dc.date.accessioned2024-03-14T19:47:40Z
dc.date.available2024-03-14T19:47:40Z
dc.date.issued2023-11
dc.description.abstract“Los dispositivos modernos que utilizan materiales ferroeléctricos se están volviendo cada vez más complejos, en específico, su tamaño tiende a una escala cada vez más pequeña. Por lo que es imprescindible conocer las propiedades físicas de estos materiales a escalas micrométricas. La microscopía piezoeléctrica de fuerza atómica (PFM) es una técnica que permite estudiar las propiedades ferroeléctricas de los materiales a este nivel. Recientemente se han descubierto varios artefactos que afectan las mediciones realizadas con esta técnica y ponen en duda la precisión de los resultados que confirman la presencia de las propiedades particulares de este tipo de materiales. Por lo tanto, es de gran importancia desarrollar métodos que puedan utilizar la microscopía de piezorespuesta de fuerza atómica para detectar y cuantificar los efectos de diversos artefactos que afectan las caracterizaciones mediante esta técnica. En este estudio analizamos curvas de fuerza medidas en el momento en que se produce la medición simultánea de piezorespuesta de fuerza atómica en un material estándar. El conocimiento generado en este trabajo sirve como guía para determinar la influencia electrostática en las mediciones de propiedades ferroeléctricas mediante microscopia de piezorespuesta atómica, lo cual ayudará a presentar resultados experimentales medidos por PFM más fiables”.
dc.folio20231116132212-6790-TL
dc.formatpdf
dc.identificator1
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12371/20233
dc.language.isospa
dc.matricula.creator201702343
dc.publisherBenemérita Universidad Autónoma de Puebla
dc.rights.accesopenAccess
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subject.classificationCIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRA
dc.subject.lccDieléctricos
dc.subject.lccMateriales piezo eléctricos--Investigación
dc.subject.lccDispositivos ferroeléctricos--Investigación
dc.subject.lccMateriales tipo perovskita
dc.subject.lccFerroelectricidad
dc.subject.lccMicroscopía de fuerza atómica
dc.thesis.careerLicenciatura en Física Aplicada
dc.thesis.degreedisciplineÁrea de Ingeniería y Ciencias Exactas
dc.thesis.degreegrantorFacultad de Ciencias Físico Matemáticas
dc.thesis.degreetoobtainLicenciado(a) en Física Aplicada
dc.titleAnálisis de curvas de fuerza para la identificación y cuantificación de artefactos en microscopia de piezorespuesta de fuerza atómica
dc.typeTesis de licenciatura
dc.type.conacytbachelorThesis
dc.type.degreeLicenciatura
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