Estudio de la morfología superficial de CuInSe2 a escala nanométrica por la técnica de microscopio de fuerza atómica (AFM)
Date
2009
Authors
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Publisher
Benemérita Universidad Autónoma de Puebla
Abstract
Caracterización de la morfología superficial del diseleniuro de cobre e indio (CuInSe₂) a escala nanométrica mediante Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). La técnica permite obtener perfiles tridimensionales de la superficie del material, facilitando el análisis de agregados, texturas y defectos superficiales. El estudio aborda las características morfológicas del CuInSe₂ y su relación con las propiedades que favorecen su utilización como material absorbente de luz en aplicaciones de celdas solares. Los resultados obtenidos mediante AFM contribuyen a la comprensión de las propiedades superficiales del material a escala nanométrica.