Estudio de la morfología superficial de CuInSe2 a escala nanométrica por la técnica de microscopio de fuerza atómica (AFM)

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dc.audiencegeneralPublic
dc.contributor.advisorZehe Kuhnt Alfred
dc.contributor.advisorRamírez Solís Araceli
dc.contributor.authorGómez Puerto Ramiro Amando
dc.coverage.placeTesiteca Biblioteca Central 3er. piso
dc.date.accessioned2026-11-06T20:07:13Z
dc.date.available2026-11-06T20:07:13Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractCaracterización de la morfología superficial del diseleniuro de cobre e indio (CuInSe₂) a escala nanométrica mediante Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). La técnica permite obtener perfiles tridimensionales de la superficie del material, facilitando el análisis de agregados, texturas y defectos superficiales. El estudio aborda las características morfológicas del CuInSe₂ y su relación con las propiedades que favorecen su utilización como material absorbente de luz en aplicaciones de celdas solares. Los resultados obtenidos mediante AFM contribuyen a la comprensión de las propiedades superficiales del material a escala nanométrica.
dc.identifier.bibrecordLELE2009 G6 E8
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12371/34722
dc.language.isospa
dc.publisherBenemérita Universidad Autónoma de Puebla
dc.rights.accesopenAccess
dc.subject.lccSelenuro de cobre e indio
dc.subject.lccMicroscopía de fuerza atómica
dc.subject.lccNanomateriales
dc.thesis.careerLicenciatura en Ciencias de la Electrónica (aparece lic. en electrónica)
dc.thesis.degreedisciplineÁrea de Ingeniería y Ciencias Exactas
dc.thesis.degreegrantorFacultad de Ciencias de la Electrónica
dc.thesis.degreetoobtainLicenciado (a) en Electrónica
dc.titleEstudio de la morfología superficial de CuInSe2 a escala nanométrica por la técnica de microscopio de fuerza atómica (AFM)
dc.typeTesis de licenciatura
dc.type.degreeLicenciatura
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Tesis de Licenciatura