Teorema de reciprocidad en mediciones altamente precisas de resistencia eléctrica
dc.audience | generalPublic | |
dc.contributor | García Vázquez, Valentín | |
dc.contributor | Polito Lucas, Jorge Alberto | |
dc.contributor | Dávila Pintle, José Antonio | |
dc.contributor.advisor | GARCIA VAZQUEZ, VALENTIN; 52426 | |
dc.contributor.advisor | POLITO LUCAS, JORGE ALBERTO; 861219 | |
dc.contributor.advisor | DAVILA PINTLE , JOSE ANTONIO; 77270 | |
dc.contributor.author | Casco Galindo, Manuel Alejandro | |
dc.date.accessioned | 2024-11-27T19:20:01Z | |
dc.date.available | 2024-11-27T19:20:01Z | |
dc.date.issued | 2019-11 | |
dc.description.abstract | "En este trabajo, se realizó un estudio del teorema de reciprocidad aplicado a la técnica de cuatro puntas. Se utilizaron películas delgadas de Niobio (Nb) como muestras de prueba. El teorema de reciprocidad señala que si se tiene un circuito (lineal e invariante en el tiempo) alimentado por una fuente (ya sea de corriente o de voltaje) y un voltímetro o amperímetro, según sea el caso, la fuente y el medidor pueden intercambiar de lugar sin provocar variaciones en las mediciones. En este trabajo, se utilizó una fuente de corriente para alimentar el circuito de cuatro puntas y un nanovoltímetro para realizar las mediciones eléctricas. Primero, se realizaron mediciones de voltaje a temperatura ambiente, la cual se mantuvo contante a 300.00 K. Posteriormente, se realizaron mediciones en función de la temperatura. Los resultados de las mediciones eléctricas se analizaron en curvas en función del tiempo y la temperatura, respectivamente. El objetivo es estudiar de manera experimental el comportamiento del teorema de reciprocidad en una película delgada en diferentes condiciones". | |
dc.folio | 9920TL | |
dc.format | ||
dc.identificator | 7 | |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12371/22795 | |
dc.language.iso | spa | |
dc.matricula.creator | 201200706 | |
dc.publisher | Benemérita Universidad Autónoma de Puebla | |
dc.rights.acces | openAccess | |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 | |
dc.subject.classification | INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA | |
dc.subject.lcc | Ingeniería eléctrica--Aparatos y materiales eléctricos--Circuitos eléctricos | |
dc.subject.lcc | Ingeniería eléctrica--Electrónica--Aparatos y materiales--Materiales (generales)--Especiales--Películas | |
dc.subject.lcc | Ingeniería eléctrica--Normas y mediciones eléctricas | |
dc.subject.lcc | Circuitos eléctricos--Pruebas | |
dc.subject.lcc | Teoremas de reciprocidad | |
dc.thesis.career | Licenciatura en Ciencias de la Electrónica (aparece lic. en electrónica) | |
dc.thesis.degreediscipline | Área de Ingeniería y Ciencias Exactas | |
dc.thesis.degreegrantor | Facultad de Ciencias de la Electrónica | |
dc.thesis.degreetoobtain | Licenciado (a) en Electrónica | |
dc.title | Teorema de reciprocidad en mediciones altamente precisas de resistencia eléctrica | |
dc.type | Tesis de licenciatura | |
dc.type.conacyt | bachelorThesis | |
dc.type.degree | Licenciatura |
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