Circuitos de pruebas para la optimización del proceso de fabricación de circuitos integrados ECMOS-INAOE

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dc.audiencegeneralPublic
dc.contributor.advisorPeykov, Peter
dc.contributor.advisorLinares, Monico
dc.contributor.authorDe la Hidalga Wade, Francisco Javier
dc.coverage.placeTesiteca tercer nivel biblioteca central
dc.date.accessioned2026-06-25T21:49:07Z
dc.date.available2026-06-25T21:49:07Z
dc.date.issued1992
dc.description.abstractIntroducción: "Esta tesis profesional, presentada por Francisco Javier de la Hidalga Wade ante la BUAP en el año 1992, examina el diseño y la implementación de "Circuitos de Pruebas para la Optimización del Proceso de Fabricación de Circuitos Integrados ECMOS-INAOE". El trabajo argumenta que el desarrollo, caracterización y control del proceso de manufactura de semiconductores CMOS de compuerta de polisilicio requiere de herramientas de diagnóstico avanzadas y metodologías analíticas rigurosas. El autor destaca que los Circuitos Integrados (CI) de Prueba son elementos estratégicos e indispensables, ya que proporcionan los parámetros eléctricos y físicos necesarios para el modelado de dispositivos y la simulación de circuitos que difícilmente se obtienen de los CIs producto. A través de un enfoque estructurado en nueve capítulos y apéndices técnicos, el documento explora desde la justificación teórica y las reglas de patrones geométricos (layout), hasta los métodos de medición y el análisis de fallas o confiabilidad. Concluye que la eficiencia y optimización de la microelectrónica moderna dependen de la capacidad de evaluar de forma precisa variables críticas como el rompimiento de dieléctricos, la movilidad de portadores y los tiempos de propagación para asegurar la competitividad tecnológica institucional".
dc.identifier.bibrecordLELE1992 P4 C5
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12371/33275
dc.language.isospa
dc.publisherBenemérita Universidad Autónoma de Puebla
dc.rights.accesrestrictedAccess
dc.subject.lccIngeniería eléctrica--Electrónica--Ingeniería nuclear--Electrónica--Microelectrónica--Circuitos integrados
dc.subject.lccRendimiento Temporal--Tiempos de Propagación--Voltajes de Conmutación--Márgenes de Ruido
dc.subject.lccIngeniería eléctrica--Electrónica--Ingeniería nuclear: gestión y supervisión de empresas eléctricas--Interconexión de sistemas de potencia
dc.thesis.careerLicenciatura en Ciencias de la Electrónica (aparece lic. en electrónica)
dc.thesis.degreedisciplineÁrea de Ingeniería y Ciencias Exactas
dc.thesis.degreegrantorFacultad de Ciencias Físico Matemáticas
dc.thesis.degreetoobtainLicenciado (a) en Electrónica
dc.titleCircuitos de pruebas para la optimización del proceso de fabricación de circuitos integrados ECMOS-INAOE
dc.typeTesis de licenciatura
dc.type.degreeLicenciatura
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Teis de Licenciatura