Determinación del grosor de una película delgada mediante la combinación de micro-interferometría óptica y análisis digital de imágenes

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dc.audiencegeneralPublices_MX
dc.contributorGarcía Vázquez, Valentín
dc.contributor.advisorGARCIA VAZQUEZ, VALENTIN; 52426
dc.contributor.authorHernández Gutiérrez, Ivan
dc.date.accessioned2020-02-11T17:39:04Z
dc.date.available2020-02-11T17:39:04Z
dc.date.issued2019-12
dc.description.abstract"Se presenta un método para determinar de manera precisa el grosor de películas delgadas. Se utiliza un microscopio óptico de polarización de luz reflejada implementado para Microscopía de Contrate de Interferencia Total (TIC, por sus siglas en inglés), para obtener patrones de micro-interferencia. Las imágenes son analizadas mediante un algoritmo de computadora desarrollado para encontrar los centros de tres curvas gaussianas sobre una misma fila (barrido horizontal) haciendo uso de los niveles de intensidad de la imagen. Las curvas gaussianas corresponden a tres franjas de interferencia, dos de referencia y la franja desplazada debido al grosor de la película delgada. Este proceso se realizó barriendo varias filas siguiendo las mismas tres franjas (barrido vertical), obteniendo así tres conjuntos de datos los cuales corresponden a los centros de cada una de las franjas."es_MX
dc.folio887319TLes_MX
dc.formatpdfes_MX
dc.identificator1es_MX
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12371/4668
dc.language.isospaes_MX
dc.matricula.creator201314447es_MX
dc.publisherBenemérita Universidad Autónoma de Pueblaes_MX
dc.rights.accesopenAccesses_MX
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0es_MX
dc.subject.classificationCIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRAes_MX
dc.subject.dbgunamInterferómetros de polarizaciónes_MX
dc.subject.dbgunamAlgoritmos computacionaleses_MX
dc.subject.dbgunamInterferencia (Luz)
dc.subject.lccPolarización (Luz)es_MX
dc.subject.lccMicroscopía de interferenciaes_MX
dc.subject.lccProcesamiento de imágenes--Técnicas digitales--Softwarees_MX
dc.thesis.careerLicenciatura en Físicaes_MX
dc.thesis.degreedisciplineÁrea de Ingeniería y Ciencias Exactases_MX
dc.thesis.degreegrantorFacultad de Ciencias Físico Matemáticases_MX
dc.thesis.degreetoobtainLicenciado (a) en Físicaes_MX
dc.titleDeterminación del grosor de una película delgada mediante la combinación de micro-interferometría óptica y análisis digital de imágeneses_MX
dc.typeTesis de licenciaturaes_MX
dc.type.conacytbachelorThesises_MX
dc.type.degreeLicenciaturaes_MX
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