Caracterización de películas delgadas de óxido de zinc con aluminio (AZO) depositadas mediante erosión catódica modulando la potencia de plasma durante el crecimiento
dc.audience | generalPublic | es_MX |
dc.contributor | Rosendo Andrés, Enrique | |
dc.contributor | Díaz Becerril, Tomás | |
dc.contributor | Pérez Ladrón de Guevara, Héctor | |
dc.contributor.advisor | ROSENDO ANDRES, ENRIQUE; 22044 | |
dc.contributor.advisor | PEREZ LADRON DE GUEVARA, HECTOR; 37383 | |
dc.contributor.author | Carranza Sánchez, Ana Cristina | |
dc.date.accessioned | 2021-01-07T01:25:34Z | |
dc.date.available | 2021-01-07T01:25:34Z | |
dc.date.issued | 2020-11-06 | |
dc.description.abstract | "En este trabajo se realizó el depósito sistemático de AZO por la técnica de erosión catódica, modulando la potencia del plasma durante el crecimiento, manteniendo los parámetros de tiempo de depósito, presión de argón, y temperatura constante. Se caracterizaron las muestras obtenidas desde el punto de vista óptico, eléctrico y estructural, mediante espectroscopia de transmitancia y/o absorbancia Uv-vis, efecto Hall, difracción de rayos X, microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido (SEM); permitiendo monitorear los cambios en las propiedades físicas de las películas crecidas." | es_MX |
dc.folio | 20201022153439-3805-T | es_MX |
dc.format | es_MX | |
dc.identificator | 1 | es_MX |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12371/9838 | |
dc.language.iso | spa | es_MX |
dc.matricula.creator | 218470585 | es_MX |
dc.rights.acces | openAccess | es_MX |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 | es_MX |
dc.subject.classification | CIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRA | es_MX |
dc.subject.lcc | Celdas solares | es_MX |
dc.subject.lcc | Pulverización catódica (Física) | es_MX |
dc.subject.lcc | Semiconductores dopados | es_MX |
dc.subject.oclc | Óxido conductor transparente | es_MX |
dc.thesis.career | Maestría en Dispositivos Semiconductores | es_MX |
dc.thesis.degreediscipline | Área de Ingeniería y Ciencias Exactas | es_MX |
dc.thesis.degreegrantor | Instituto de Ciencias | es_MX |
dc.thesis.degreetoobtain | Maestro(a) en Dispositivos Semiconductores | es_MX |
dc.title | Caracterización de películas delgadas de óxido de zinc con aluminio (AZO) depositadas mediante erosión catódica modulando la potencia de plasma durante el crecimiento | es_MX |
dc.type | Tesis de maestría | es_MX |
dc.type.conacyt | masterThesis | es_MX |
dc.type.degree | Maestría | es_MX |
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