Estudio de las características eléctricas de estructuras tipo MOS con SiOX para su posible aplicación a fotodetectores

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dc.audiencegeneralPublices_MX
dc.contributorLuna López, José Alberto
dc.contributorJosé Francisco, Flores Gracia
dc.contributorFlores Martínez, Guillermo
dc.contributor.advisorLUNA LOPEZ, JOSE ALBERTO; 200808
dc.contributor.advisorFLORES MARTINEZ, GUILLERMO; 169853
dc.contributor.authorMendoza Conde, Gabriel Omar
dc.creatorMENDOZA CONDE, GABRIEL OMAR; 774931
dc.date.accessioned2021-07-29T15:20:21Z
dc.date.available2021-07-29T15:20:21Z
dc.date.issued2016-05
dc.description.abstract"La presente tesis está enfocada en la caracterización óptica y eléctrica de estructuras tipo MOS con SiOx para su posible aplicación en fotodetectores. Se realizaron películas de SiOx con diversos parámetros de fabricación, y se emplearon dos tipos de compuertas, una estructura con compuerta de Aluminio y la otra con FTO (oxido de estaño dopado con flúor). Las películas de SiOx de película delgada tienen propiedades ópticas y estructurales muy interesantes, las cuales pueden ser usadas como capas absorbentes de radiación UV-Visible que pueden ser aplicadas en la fotodetección, esto debido al efecto combinado de los nanocristales de silicio y defectos presentes en la película SiOx".es_MX
dc.folio324316TLes_MX
dc.formatpdfes_MX
dc.identificator7es_MX
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12371/13664
dc.language.isospaes_MX
dc.matricula.creator201020097es_MX
dc.rights.accesopenAccesses_MX
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0es_MX
dc.subject.classificationINGENIERÍA Y TECNOLOGÍAes_MX
dc.subject.lccDispositivos optoelectrónicoses_MX
dc.subject.lccSemiconductoreses_MX
dc.subject.lccFotoconductividades_MX
dc.subject.lccEfecto Halles_MX
dc.subject.lccSilicioes_MX
dc.thesis.careerLicenciatura en Ingeniería Mecánica y Eléctricaes_MX
dc.thesis.degreedisciplineÁrea de Ingeniería y Ciencias Exactases_MX
dc.thesis.degreegrantorFacultad de Ingenieríaes_MX
dc.thesis.degreetoobtainIngeniero (a) Mecánico y Eléctricoes_MX
dc.titleEstudio de las características eléctricas de estructuras tipo MOS con SiOX para su posible aplicación a fotodetectoreses_MX
dc.typeTesis de licenciaturaes_MX
dc.type.conacytbachelorThesises_MX
dc.type.degreeLicenciaturaes_MX
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