Propuesta metodológica de calidad para equipo de medición

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dc.audiencegeneralPublices_MX
dc.contributorSoto Garcia, Emilio Miguel
dc.contributor.advisorSOTO GARCIA, EMILIO MIGUEL; 34102
dc.contributor.authorDe Dios González, Jesús
dc.date.accessioned2021-09-23T16:31:38Z
dc.date.available2021-09-23T16:31:38Z
dc.date.issued2016-06-30
dc.description.abstract“Este trabajo de tesis con el cual pretendo aclarar y dar respuesta a innumerables preguntas relacionadas con las mediciones, es el resultado de años de experiencia en la industria nacional a su vez en el manejo de sistemas de medición relacionados en la producción de bienes y servicios en donde la metrología en sus diferentes áreas directamente participan. Los conceptos metrológicos han cobrado importancia por su inclusión en las normas ISO recientes sobre sistemas de calidad, las cuales se han convertido en pilares de la competitividad comercial del siglo XXI. El propósito de esta propuesta es mostrar los beneficios que se obtienen en implantar, administrar y mantener un sistema de confirmación metrológica para equipos de inspección, medición y prueba instalados dentro de un laboratorio, taller, planta industrial y/o lugar de medición involucrados en la producción de un bien o servicio, con el fin de asegurar que las mediciones son hechas con la exactitud requerida”.es_MX
dc.folio499516TLes_MX
dc.formatpdfes_MX
dc.identificator7es_MX
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12371/14411
dc.language.isospaes_MX
dc.matricula.creator216870143es_MX
dc.rights.accesopenAccesses_MX
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0es_MX
dc.subject.classificationINGENIERÍA Y TECNOLOGÍAes_MX
dc.subject.lccMetrologíaes_MX
dc.subject.lccMedición--Estudio y enseñanzaes_MX
dc.subject.lccInstrumentos de mediciónes_MX
dc.subject.lccSistema métricoes_MX
dc.thesis.careerLicenciatura en Ciencias de la Electrónica (aparece lic. en electrónica)es_MX
dc.thesis.degreedisciplineÁrea de Ingeniería y Ciencias Exactases_MX
dc.thesis.degreegrantorFacultad de Ciencias de la Electrónicaes_MX
dc.thesis.degreetoobtainLicenciado (a) en Electrónicaes_MX
dc.titlePropuesta metodológica de calidad para equipo de mediciónes_MX
dc.typeTesis de licenciaturaes_MX
dc.type.conacytbachelorThesises_MX
dc.type.degreeLicenciaturaes_MX
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