Perfilometría de desplazamiento lateral mediante interferometría de corrimiento de fase

Simple item page
dc.audiencegeneralPublic
dc.contributorCruz Meneses, Fabián
dc.contributor.authorMiguel Ángel, Navarro Ahuatl
dc.date.accessioned2024-10-09T17:38:13Z
dc.date.available2024-10-09T17:38:13Z
dc.date.issued2024-07-04
dc.description.abstract"La topografía de objetos opacos medida con alta precisión con métodos sin contacto físico y de campo completo es un procedimiento apreciado en muchas áreas de la ciencia y la ingeniería. La proyección de luz incoherente con estructura periódica hace posible el cumplimiento de esta tarea exitosamente. La idea fundamental está basada en asociar las deformaciones de los patrones de luz proyectados a la topografía del objeto y, dicho sea de paso, la forma de su medición experimental clasifica el método empleado. Para cuantificar, típicamente, se usa una referencia y posteriormente se agrega el objeto. Así, es posible conocer la topografía mediante la resta de la medición en ambas situaciones. En este trabajo de tesis de maestría se propone obtener la topografía del objeto sin usar referencia, que hasta donde se sabe esta idea no es conocida, y evaluar los patrones de luz estructurada mediante análisis de franjas por corrimiento de fase síncrono. Es posible evitar el uso de referencia debido a las ventajas inherentes que da el hecho de desplazar el objeto en dos direcciones ortogonales para obtener el gradiente de su topografía, y entonces aplicar una integral de trayectoria para obtener la forma del objeto".
dc.folio20240712132346-8775-T
dc.formatpdf
dc.identificator1
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12371/21596
dc.language.isospa
dc.matricula.creator222470412
dc.publisherBenemérita Universidad Autónoma de Puebla
dc.rights.accesopenAccess
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subject.classificationCIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRA
dc.subject.lccTopografía
dc.subject.lccTopografía--Instrumentos
dc.subject.lccMedición de longitud
dc.subject.lccCiencias de la Tierra -- Sensibilidad remota
dc.thesis.careerMaestría en Ciencias (Física Aplicada)
dc.thesis.degreedisciplineÁrea de Ingeniería y Ciencias Exactas
dc.thesis.degreegrantorFacultad de Ciencias Físico Matemáticas
dc.thesis.degreetoobtainMaestro (a) en Ciencias (Física Aplicada)
dc.titlePerfilometría de desplazamiento lateral mediante interferometría de corrimiento de fase
dc.typeTesis de maestría
dc.type.conacytmasterThesis
dc.type.degreeMaestría
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
20240712132346-8775-T.pdf
Size:
8.55 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Download
Name:
20240712132346-8775-Carta.pdf
Size:
1.32 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Collections
Tesis de Maestría