Contactos óhmicos de baja resistividad para dispositivos de GaSb
| dc.audience | generalPublic | |
| dc.contributor.advisor | Zarate Corona, Oscar | |
| dc.contributor.advisor | Herrera Pérez, José Luis | |
| dc.contributor.author | López Gayou, Valentín | |
| dc.coverage.place | Tesiteca, Biblioteca Central 3er. piso | |
| dc.date.accessioned | 2026-06-23T21:40:10Z | |
| dc.date.available | 2026-06-23T21:40:10Z | |
| dc.date.issued | 1998-05 | |
| dc.description.abstract | Los detectores IR en el régimen de 8-14 μm basados en superredes de GaAlSb/AlSb, InAs/InGaSb e InAsSb se creen de una gran competición para los detectores de hoy en día de HgCdTe. Comparado con otros compuestos III-V, tales como GaAs, InSb, InP y GaP, los aspectos tecnológicos del GaSb han sido poco estudiados actualmente. En este trabajo nos enfocamos a una parte importante del proceso de fabricación de dispositivos optoelectrónicos: la formación de contactos óhmicos de baja resistividad en GaSb. Enfocamos nuestro estudio en la fabricación de interfaces metal-semiconductor y desarrollamos un proceso que disminuye la resistencia eléctrica entre ellos. El trabajo se desarrollará bajo la siguiente temática: en el capítulo 1 describimos teóricamente los contactos metal-semiconductor, iniciamos con una breve reseña histórica y resumimos los principales mecanismos de transporte eléctrico en esta interfaz. En el capítulo 2 mostramos los diferentes métodos de medición de la resistencia de contacto, enfocándonos en semiconductores binarios y en el método de Kuphal. En el capítulo 3 describimos la forma experimental que usamos para obtener nuestros contactos eléctricos. Finalmente, en el capítulo 4 analizamos los resultados obtenidos y hacemos una discusión de ellos. | |
| dc.identifier.bibrecord | LELE1998 L6 C6 | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12371/33215 | |
| dc.language.iso | spa | |
| dc.publisher | Benemérita Universidad Autónoma de Puebla | |
| dc.rights.acces | restrictedAccess | |
| dc.subject.lcc | Ingeniería eléctrica —Conductividad eléctrica—Semiconductores—Ingeniería nuclear—Normas y mediciones eléctricas—Ohm—Electroóptica aplicada | |
| dc.subject.lcc | Optoelectrónica —Películas delgadas—Dopaje—Electricidad y magnetismo—Amplificadores—Teoría electromagnética–Circuitos especiales | |
| dc.subject.lcc | Física de semiconductores—Corriente eléctrica | |
| dc.thesis.career | Licenciatura en Ciencias de la Electrónica (aparece lic. en electrónica) | |
| dc.thesis.degreediscipline | Área de Ingeniería y Ciencias Exactas | |
| dc.thesis.degreegrantor | Facultad de Ciencias de la Electrónica | |
| dc.thesis.degreetoobtain | Licenciado (a) en Electrónica | |
| dc.title | Contactos óhmicos de baja resistividad para dispositivos de GaSb | |
| dc.type | Tesis de licenciatura | |
| dc.type.degree | Licenciatura |