Optimización en el análisis de Fourier con patrones de franjas normalizadas

dc.audiencegeneralPublices_MX
dc.contributorRobledo Sánchez, Carlos Ignacio
dc.contributorOrtíz Gutiérrez, Mauricio
dc.contributor.advisorROBLEDO SANCHEZ, CARLOS IGNACIO; 14533
dc.contributor.advisorORTIZ GUTIERREZ, MAURICIO; 20646
dc.contributor.authorCasco Vásquez, José Federico
dc.creatorCASCO VASQUEZ, JOSE FEDERICO; 74965
dc.date.accessioned2020-05-18T16:50:37Z
dc.date.available2020-05-18T16:50:37Z
dc.date.issued2014-01
dc.description.abstract"La metrología óptica es un área de desarrollo cuyo principal objetivo es medir algunas propiedades de objetos como su tamaño, forma, entre otras características; sin alterar o afectar al objeto debido a que se utilizan técnicas sin contacto físico, es decir, sólo se utiliza la luz como una forma de contacto óptico. Gracias al desarrollo de nuevo equipo como computadoras, software de procesamiento de imágenes más robustos, láseres, cámaras CCDs, etc, se ha mejorado la precisión de los sistemas de medición. Es por esto que el interés por la metrología óptica ha ido creciendo y actualmente se tienen aplicaciones de ella en áreas diversas como la medicina, la industria, la ciencia, etc.".es_MX
dc.folio234215Tes_MX
dc.formatpdfes_MX
dc.identificator1es_MX
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12371/6166
dc.language.isospaes_MX
dc.matricula.creator295700906es_MX
dc.publisherBenemérita Universidad Autónoma de Pueblaes_MX
dc.rights.accesopenAccesses_MX
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0es_MX
dc.subject.classificationCIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRAes_MX
dc.subject.lccMediciónes_MX
dc.subject.lccMedidas ópticas--Investigaciónes_MX
dc.subject.lccReconstrucción de imágenes--Modelos matemáticoses_MX
dc.subject.lccDifracciónes_MX
dc.subject.lccAnálisis de Fourier--Investigaciónes_MX
dc.thesis.careerDoctorado en Ciencias (Física Aplicada)es_MX
dc.thesis.degreedisciplineÁrea de Ingeniería y Ciencias Exactases_MX
dc.thesis.degreegrantorFacultad de Ciencias Físico Matemáticases_MX
dc.thesis.degreetoobtainDoctor (a) en Ciencias (Física Aplicada)es_MX
dc.titleOptimización en el análisis de Fourier con patrones de franjas normalizadases_MX
dc.typeTesis de doctoradoes_MX
dc.type.conacytdoctoralThesises_MX
dc.type.degreeDoctoradoes_MX
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