Optimización en el análisis de Fourier con patrones de franjas normalizadas
dc.audience | generalPublic | es_MX |
dc.contributor | Robledo Sánchez, Carlos Ignacio | |
dc.contributor | Ortíz Gutiérrez, Mauricio | |
dc.contributor.advisor | ROBLEDO SANCHEZ, CARLOS IGNACIO; 14533 | |
dc.contributor.advisor | ORTIZ GUTIERREZ, MAURICIO; 20646 | |
dc.contributor.author | Casco Vásquez, José Federico | |
dc.creator | CASCO VASQUEZ, JOSE FEDERICO; 74965 | |
dc.date.accessioned | 2020-05-18T16:50:37Z | |
dc.date.available | 2020-05-18T16:50:37Z | |
dc.date.issued | 2014-01 | |
dc.description.abstract | "La metrología óptica es un área de desarrollo cuyo principal objetivo es medir algunas propiedades de objetos como su tamaño, forma, entre otras características; sin alterar o afectar al objeto debido a que se utilizan técnicas sin contacto físico, es decir, sólo se utiliza la luz como una forma de contacto óptico. Gracias al desarrollo de nuevo equipo como computadoras, software de procesamiento de imágenes más robustos, láseres, cámaras CCDs, etc, se ha mejorado la precisión de los sistemas de medición. Es por esto que el interés por la metrología óptica ha ido creciendo y actualmente se tienen aplicaciones de ella en áreas diversas como la medicina, la industria, la ciencia, etc.". | es_MX |
dc.folio | 234215T | es_MX |
dc.format | es_MX | |
dc.identificator | 1 | es_MX |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12371/6166 | |
dc.language.iso | spa | es_MX |
dc.matricula.creator | 295700906 | es_MX |
dc.publisher | Benemérita Universidad Autónoma de Puebla | es_MX |
dc.rights.acces | openAccess | es_MX |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 | es_MX |
dc.subject.classification | CIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRA | es_MX |
dc.subject.lcc | Medición | es_MX |
dc.subject.lcc | Medidas ópticas--Investigación | es_MX |
dc.subject.lcc | Reconstrucción de imágenes--Modelos matemáticos | es_MX |
dc.subject.lcc | Difracción | es_MX |
dc.subject.lcc | Análisis de Fourier--Investigación | es_MX |
dc.thesis.career | Doctorado en Ciencias (Física Aplicada) | es_MX |
dc.thesis.degreediscipline | Área de Ingeniería y Ciencias Exactas | es_MX |
dc.thesis.degreegrantor | Facultad de Ciencias Físico Matemáticas | es_MX |
dc.thesis.degreetoobtain | Doctor (a) en Ciencias (Física Aplicada) | es_MX |
dc.title | Optimización en el análisis de Fourier con patrones de franjas normalizadas | es_MX |
dc.type | Tesis de doctorado | es_MX |
dc.type.conacyt | doctoralThesis | es_MX |
dc.type.degree | Doctorado | es_MX |