Desarrollo de microscopia de piezorespuesta de fuerza atómica en modo curvas de fuerza para el estudio a nanoescala de materiales ferroeléctricos
Date
2025-08
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Publisher
Benemérita Universidad Autónoma de Puebla
Abstract
"La caracterización de materiales ha sido un área de interés muy importante, puesto que conforme avanza el desarrollo tecnológico, se requiere conocer y comprender las propiedades de los materiales. Sin embargo, parte del desarrollo de nuevas tecnologías se ha enfocado en la nanotecnología, por lo que estudiar las propiedades de los materiales a escalas nanométricas se ha vuelto fundamental, tanto como desarrollar tecnología que nos permita interactuar con el mundo microscópico. En este sentido, la microscopía de fuerza atómica es en la actualidad una herramienta esencial para la nanotecnología, que permite caracterizar a nivel local, las propiedades físicas, eléctricas, químicas y mecánicas, de diversos tipos de materiales. Con base en este contexto, en este trabajo se desarrolló un código en lenguaje Python, que permite analizar de manera independiente la información que genera el Microscopio de Fuerza Atómica (AFM), mediante la técnica de Piezorrespuesta de Fuerza Atómica (PFM), cuando analiza muestras ferroeléctricas; puesto que conocer sus características a escalas nanométricas se ha vuelto de gran interés, por sus diversas aplicaciones en las áreas de medicina, óptica, entre otras. Normalmente, la técnica de PFM se realiza en modo contacto, pero para muestras con módulos de Young bajos (materiales suaves), el barrido en contacto mediante AFM puede dañar la super cie de la muestra o arrastrar el material, por lo que las mediciones mediante PFM se verán severamente afectadas.
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