Desarrollo de microscopia de piezorespuesta de fuerza atómica en modo curvas de fuerza para el estudio a nanoescala de materiales ferroeléctricos

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dc.audiencegeneralPublic
dc.contributorGervacio Arciniega, José Juan
dc.contributorVargas García, Vicente
dc.contributor.advisorGervacio Arciniega, José Juan; 0000-0001-7965-4493
dc.contributor.advisorVargas García, Vicente; 0000-0001-7457-2026
dc.contributor.authorHernández Marín, Sandra Tzitlalli
dc.date.accessioned2026-01-15T17:17:35Z
dc.date.available2026-01-15T17:17:35Z
dc.date.issued2025-08
dc.description.abstract"La caracterización de materiales se ha vuelto esencial en el desarrollo de nuevas tecnologías, especialmente debido a la creciente importancia de la nanotecnología. A medida que se busca manipular la materia a escalas nanométricas, se han desarrollado herramientas como la microscopía de fuerza atómica (AFM). Sin embargo, la caracterización de materiales suaves mediante AFM presenta desafíos, como el riesgo de dañar las muestras. Para abordar estas limitaciones, se introduce el modo Pinpoint de AFM, que permite la medición de propiedades mecánicas y topográficas sin contacto directo y prolongado, reduciendo el riesgo de artefactos en las imágenes y prolongando la vida útil de la punta del microscopio. Este enfoque no solo facilita la obtención de datos de alta calidad, sino que también amplía la comprensión de las propiedades estructurales y funcionales de los materiales, lo que es particularmente relevante para los materiales ferroeléctricos, que son versátiles y tienen diversas aplicaciones".
dc.folio20250814122646-6277-TL
dc.formatpdf
dc.identificator1
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12371/30893
dc.language.isospa
dc.matricula.creator201750878
dc.publisherBenemérita Universidad Autónoma de Puebla
dc.rights.accesopenAccess
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subject.classificationCIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRA
dc.subject.lccFísica--Electricidad y magnetismo--Electricidad--Electrostática--Ferroelectricidad--Obras generales, tratados y libros de texto
dc.subject.lccCristales ferroeléctricos--Análisis
dc.subject.lccMateriales--Propiedades--Experimentos
dc.subject.lccMicroscopía de fuerza atómica
dc.thesis.careerLicenciatura en Física Aplicada
dc.thesis.degreedisciplineÁrea de Ingeniería y Ciencias Exactas
dc.thesis.degreegrantorFacultad de Ciencias Físico Matemáticas
dc.thesis.degreetoobtainLicenciado (a) en Física Aplicada
dc.titleDesarrollo de microscopia de piezorespuesta de fuerza atómica en modo curvas de fuerza para el estudio a nanoescala de materiales ferroeléctricos
dc.typeTesis de licenciatura
dc.type.conacytbachelorThesis
dc.type.degreeLicenciatura
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